品牌 | 其他品牌 | 供貨周期 | 現貨 |
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應用領域 | 綜合 |
在儀(yi) 器測定波長名義(yi) 值(589nm、 880nm、882nm)上下 10 nm 範圍內(nei) , 對於(yu) 衰減比為(wei) 10%、1%,其衰減相對 變化不超過±20%。透過率光譜中性 衰減模擬器的內(nei) 應力對旋光度影響 不超過儀(yi) 器的最小分度示值。JJG536-2015《旋光儀(yi) 與(yu) 旋光糖量 計》計量檢定規程要求,檢定校準 自動旋光糖量計低透過率示值誤 差和重複性時,對於(yu) 確實無法采用 機械斬波低透過率模擬器時,采用 的透過率光譜中性衰減模擬器。在儀(yi) 器測定波長名義(yi) 值(589nm、 880nm、882nm)上下 10 nm 範圍內(nei) , 對於(yu) 衰減比為(wei) 10%、1%,其衰減相對 變化不超過±20%。透過率光譜中性 衰減模擬器的內(nei) 應力對旋光度影響 不超過儀(yi) 器的最小分度示值。JJG536-2015《旋光儀(yi) 與(yu) 旋光糖量 計》計量檢定規程要求,檢定校準 自動旋光糖量計低透過率示值誤 差和重複性時,對於(yu) 確實無法采用 機械斬波低透過率模擬器時,采用 的透過率光譜中性衰減模擬器。
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