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二氧化矽納米薄膜厚度伟德1946吧

更新時間：2024-03-14

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廠商性質：經銷商

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簡要描述：
本伟德1946吧主要用於薄膜厚度測量和表麵化學分析（深度剖析）儀器設備的檢定/校準、分析 方法的確認與評價、技術仲裁測量以及測量質量控製等。
品牌中國計量科學研究院供貨周期現貨
應用領域綜合1片11.10nm

本伟德1946吧主要用於(yu) 薄膜厚度測量和表麵化學分析（深度剖析）儀(yi) 器設備的檢定/校準、分析方法的確認與(yu) 評價(jia) 、技術仲裁測量以及測量質量控製等。一、 樣品製備本伟德1946吧係通過原子層沉積技術在單晶矽基底上生長二氧化矽納米薄膜成批製備而成，切割形成正方形片狀樣品（10mm×10mm×0.7mm）。二、 溯源性及定值方法本伟德1946吧采用兩(liang) 種的不同原理方法（掠入射 X 射線反射測量和橢偏測量）進行定值，以兩(liang) 種定值方法測量結果的總平均值作為(wei) 標準值。通過使用滿足計量學特性要求的測量方法和計量器具，保證伟德1946吧量值的溯源性。

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